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麥奇克MICROTRAC MRB激光粒度儀NANOTRAC WAVE II納米粒度及zeta電位儀

NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。

產品詳情

納米粒度測量——先進的動態光背散射技術

Zeta電位測量：Microtrac MRB以其在激光衍射/散射技術和顆粒表征方面的獨到見解，經過多年的市場調研和潛心研究，開發出新一代NANOTRAC WAVE II微電場分析技術，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體，無需傳統的比色皿，一次進樣即可得到準確的粒度分布和Zeta電位分析數據。與傳統的Zeta電位分析技術相比，NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設計，配置膜電極產生微電場，操作簡單，測量迅速，無需定位由于電泳和電滲等效應導致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，完全消除由于空間位阻（不同光學元器件間的傳輸損失，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異，分散介質的影響，顆粒間多重散射等）帶來的光學信號的損失，結果準確可靠，重現性好。

測量原理：

粒度測量：動態光背散射技術和全量程米氏理論處理

Zeta電位測量：膜電極設計與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率

分子量測量：水力直徑或德拜曲線

光學系統：

3mW780nm半導體固定位置激光器，通過梯度步進光纖直接照射樣品，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號，無需校正光路

軟件系統：

先進的FLEX軟件提供強大的數據處理能力，包括圖形，數據輸出/輸入，個性化輸出報告，及各種文字處理功能，如PDF格式輸出, Internet共享數據，Microsoft Access格式（OLE）等。體積，數量，面積及光強分布，包括積分/微分百分比和其他分析統計數據。數據的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護，電子簽名和授權等。

外部環境：

電源要求：90-240VAC，5A，50/60Hz

環境要求：溫度，10-35°C

：符合ISO13321，ISO13099-2:2012 和 ISO22412:2008

主要特點：

? 采用先進的動態光散射技術，引入能普概念代替傳統光子相關光譜法

? “Y”型光纖光路系統，通過藍寶石測量窗口，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布，在加載電流的情況下，與膜電極對應產生微電場，測量同一體系的Zeta電位， 避免樣品交叉污染與濃度變化。

? 異相多譜勒頻移技術，較之傳統的方法，獲得光信號強度高出幾個數量級，提高分析結果的可靠性。

? 可控參比方法（CRM），能精細分析多譜勒頻移產生的能譜，確保分析的靈敏度。

? 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設計，減少了多重散射現象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準確性。

? 快速傅利葉變換算法（FFT，Fast FourierTransform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統獲得的能譜，縮短分析時間。

? 膜電極設計，避免產生熱效應，能準確測量顆粒電泳速度。

? 無需比色皿，毛細管電泳池或外加電極池，僅需點擊Zeta電位操作鍵，一分鐘內即可得到分析結果

? 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾，諸如光路中不同光學元器件間傳輸的損失，樣品池位置不同帶來的誤差，比色皿器壁的折射與污染，分散介質的影響，多重散射的衰減等，提高靈敏度。

產品參數

解決方案

麥奇克納米粒度儀Nanotrac +Wave在脂質體乳液測量中的應用

本論文著重描寫脂肪蛋白質和膠束在稀釋或是濃縮液體環境中的脂質體粒子的測量. 由于需要控制, 修改及穩定脂質體, 尺寸大小的測量就是一個關鍵的參數. 因而對多層薄層結構的生長, 脂質體的團聚, 膜的瓦解, 和微生物的污染都是很重要的而且可以通過(PCS)光子相關光譜法測量粒子尺寸得到研究. 采用(PCS)光子相關光譜法原理設計的美國Microtrac Nanotrac Wave儀器可以被用來縮短測量時間(5-30分)而且可測量精細粒子(3-6000納米)的脂質體。

麥奇克納米粒度儀在印刷油墨粒徑測量的應用

麥奇克在測量打印機的顏料懸浮液微粒粒徑方面已經建立了一套成熟的標準方法。在高濃度進行測量以免稀釋對分散產生影響。